x射线成像检测系统为缺陷是指由于透照操作或暗室操作不当，或由于胶片、增感屏质量不好，在底片上留下非缺陷影像。常见的有以下几种：划痕、压痕、折痕、水迹、静电感光、显影斑纹、显影液沾染、定影液沾染、增感屏伪缺陷等。只有明确每一种为缺陷的成因才能采取切实妥当的措施来避免其的产生。

划痕 ：胶片被尖锐物体(指甲、器具尖角、胶片尖角、砂粒等）划过，在底片上留下的黑线。

压痕 ：胶片局部受压会引起局部感光，从而在底片上留下压痕。

折痕 ：胶片受弯折，会发生减感或增感效应，在底片上产生白色或黑色影响。

水迹 ：由于水质不好或底片干燥处理不当，会在底片上出现水迹。

静电感光 ：切装胶片时，因摩擦产生的静电发生放电现象使胶片感光，在底片上留下黑色影响。

显影斑纹 ：由于曝光过度，显影液温度过高、浓度过大导致快速显影，或因显影时搅动不及时，均会造成显影不均匀，从而产生显影斑纹。

显影液沾染 ：显影操作开始前，胶片沾染了显影液，沾上显影液的部位提前显影，黑度比其他部位大。

定影液沾染 ：显影操作开始前，胶片沾染了定影液，沾上定影液的部位发生定影作用，使得该部位黑度小于其他部位。

增感屏伪缺陷 ：由于增感屏的损坏或污染使局部增感性能改变而在底片上留下的影响。如增感屏上的裂纹或划伤会在底片上造成黑色影像，而增感屏上的污物在底片上造成白色影像。