x射线成像检测系统射线透照常规工艺允许试件有一定的厚度差异，在射线底片上所能显示的厚度范围（符合标准规定的黑度上下限值范围，如1.5~3.5），就称为RT厚度容度。但若试件厚度差过大，就会透照质量失效，要解决此问题，必须采用一些特殊工艺或技术措施。

试件厚度差异的大小可用试件厚度比来衡量，试件厚度比可定义为一次透照范围内试件的比较大厚度与比较小厚度之比，用Ks表示。当Ks大于1.4时，可以认为属于大厚度比试件。实际工作中的大厚度比试件包括余高较高的薄板对接焊缝试件、小口径管试件、角焊缝试件，以及一些形状较复杂的机械零件。

大厚度比对射线照相质量的不利影响主要表现在两个方面：一是因试件厚度差较大导致底片黑度差较大，而底片黑度过低或过高都会影响射线照相灵敏度。二是因试件厚度变化导致散射比增大，产生边蚀效应。

对大厚度比试件透照的特殊技术措施包括适当提高管电压技术、双胶片技术和补偿技术。

【适当提高管电压技术】

适当提高管电压是透照大厚度比试件比较常采用的，也是比较简便的方法。

随着管电压的提高，底片上不同部位的黑度差将减小，这样，在规定的黑度范围内，可以容许更大的试件厚度变化范围，即提高管电压可以获得更大的透照厚度宽容度。此外，对厚度变化的试件透照，提高管电压可以减小散射比，降低边蚀效应。但是射线能量提高后，衰减系数μ减小，从未会导致对比度减小，这一点对射线照相灵敏度不利。因此，管电压不能任意提高，究竟管电压提高多少比较合适，这是确定具体透照工艺需要研究的问题。

【双胶片技术】

x射线成像检测系统对厚度差较大的工件，可以采用在一只暗盒里放两张胶片同时透照的双胶片技术。

暗盒里放置的两张胶片一般应选用感光度不同的两种胶片（异速双片法），其中感光度较大的胶片适用于透照厚度较大部位的观察评定。另一种是在暗盒中放置感光速度相同的两张胶片（同速双片），管片方法是对黑度较小部位，将双片重叠观察评定，对黑度较大部位，用单片观察评定。